Юрий Завалин, директор по производству АО “НИИМА Прогресс” дал интервью в связи с подготовкой к секции “Моделирование электронных компонентов и систем” Форума “Микроэлектроника 2018”. Подробнее можно почитать по ссылке: news.rambler.ru.

О чем, в основном, шел разговор.

В этом году секция расширит свою тематику. Планируется поговорить о том, что существующие системы автоматизированного проектирования микросхем остаются импортными, тогда как отечественная САПР микроэлектронных изделий все еще отсутствует как конечный продукт, несмотря на существование и развитие различного отечественного ПО. В работе секции примут участники разработок САПР в рамках госпрограммы развития ОПК, которые ведутся Департаментом радиоэлектронной промышленности Минпромторга.

Будет обсуждаться тренд сезона - скрипты, позволяющие проектировать на современных технологиях уровня 65 нм и ниже вплоть до 16 нм.

На секции обещаны интересные доклады от школы Константина Петросянца из МИЭМ НИУ ВШЭ на тему эффектов, связанных со специальными внешними воздействующими факторами, соответствующие модели могут импортироваться в существующие иностранные САПР.

Планируется затронуть вопросы проектирования сложно-функциональных изделий типа SoC, СВЧ МИС, а также сквозное проектирование “плата-корпус-кристалл”, как один из ключевых трендов.

Возможно будут доклады по теме проектирования компонентов радиофотоники и оптоэлектронных устройств.

+

Подписывайтесь на Telegram-канал, посвященный микроэлектронике

теги: микроэлектроника НИИМА САПР CAD встречи

+ +